DETF20膜厚測量?jì)x通用的膜厚測量?jì)x器，在全球成千上萬(wàn)的應用中得到使用。厚度和折射率可以在不到一秒的時(shí)間內測量到。與我們所有的厚度測量?jì)x器一樣，DETF20連接到計算機的USB端口并在幾分鐘內完成設置。不論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數，還是想要知道材料的反射率和透過(guò)率，DETF20膜厚測量?jì)x都可以滿(mǎn)足需求。